一建通廣備考：光纜的單盤(pán)檢驗(yàn)與配盤(pán)

光纜的單盤(pán)檢驗(yàn)與配盤(pán)：

光纜單盤(pán)檢驗(yàn)。在光纜運(yùn)達(dá)現(xiàn)場(chǎng)、分屯點(diǎn)后進(jìn)行，進(jìn)行外觀檢查和光(電)特性測(cè)試。

1、外觀檢查：

(1)檢查光纜盤(pán)有無(wú)變形，護(hù)板有無(wú)損傷，各種隨盤(pán)資料是否齊全；

(2)開(kāi)盤(pán)后應(yīng)先檢查光纜外皮有無(wú)損傷、光纜端頭密封是否完好、光纜端別(A 、B 端)標(biāo)志正確明顯；

(3)對(duì)經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)的光纜應(yīng)作記錄，并在纜盤(pán)上做好標(biāo)識(shí)。外觀檢查工作應(yīng)請(qǐng)供應(yīng)單位一起進(jìn)行。

2、光纜光電性能檢驗(yàn)：

包括光纜長(zhǎng)度的復(fù)測(cè)、光纜單盤(pán)損耗測(cè)量、光纖后向散射信號(hào)曲線觀察和光纜內(nèi)金屬層間絕緣度檢查等。

(1)光纜長(zhǎng)度復(fù)測(cè)。應(yīng) 應(yīng) 100% 抽樣，按廠家標(biāo)明的折射率系數(shù)用 光時(shí)域反射儀(OTDR)測(cè)試光纖長(zhǎng)度;按廠家標(biāo)明的扭絞系數(shù)計(jì)算單盤(pán)光纜長(zhǎng)度(一般規(guī)定光纖出廠長(zhǎng)度只允許正偏差，當(dāng)發(fā)現(xiàn)負(fù)偏差時(shí)應(yīng)重點(diǎn)測(cè)量，以得出光纜的實(shí)際長(zhǎng)度)。

(2)光纜單損耗測(cè)試。測(cè)試采用 后向散射法(OTDR 法)，可加 1~2km 的測(cè)試光纖(尾纖)，以消除 OTDR 的盲區(qū)，并做好記錄。

(3)光纖后向散射信號(hào)曲線。用于觀察判斷光纜在成纜或運(yùn)輸過(guò)程中，光纖是否被 壓傷、斷裂或輕微裂傷，同時(shí)還可觀察光纖隨長(zhǎng)度的損耗分布是否均勻，光纖是否存在缺陷。

(4)光纜護(hù)層的絕緣檢查。除特殊要求外，施工現(xiàn)場(chǎng)一般不進(jìn)行測(cè)量。但對(duì)纜盤(pán)的包裝以及光纜的外護(hù)層要進(jìn)行目視檢查。